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恒溫恒濕試驗(yàn)箱的測(cè)試流程是怎么樣的？

產(chǎn)品需要在高低溫的環(huán)境下測(cè)試其性能，市場(chǎng)上的恒溫恒濕試驗(yàn)箱的測(cè)試流程是怎么樣的呢？... 產(chǎn)品需要在高低溫的環(huán)境下測(cè)試其性能，市場(chǎng)上的恒溫恒濕試驗(yàn)箱的測(cè)試流程是怎么樣的呢？ 展開(kāi)

      1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50℃，保持4個(gè)小時(shí)；請(qǐng)勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測(cè)試，非常重要，因?yàn)橥姞顟B(tài)下，芯片本身就會(huì)產(chǎn)生20℃以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過(guò)低溫測(cè)試，必須先將其“凍透"，再次通電進(jìn)行測(cè)試。

      2、開(kāi)機(jī)，對(duì)樣品進(jìn)行性能測(cè)試，對(duì)比性能與常溫相比是否正常。

     3.進(jìn)行老化測(cè)試，觀察是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。

     4、升溫到 90℃，保持4個(gè)小時(shí)，與低溫測(cè)試相反，升溫過(guò)程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度-直處于高溫狀態(tài)，4個(gè)小時(shí)后，執(zhí)行2、3、4測(cè)試步驟。

      5、高溫和低溫測(cè)試分別重復(fù)10次。

如果測(cè)試過(guò)程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測(cè)試失敗。